標(biāo)準(zhǔn)類別 | 國(guó)家標(biāo)準(zhǔn) | 發(fā)布日期 | 2003-06-16 |
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標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài) | ![]() |
實(shí)施日期 | 2004-01-01 |
頒發(fā)部門 | 暫無 | 廢止日期 | 2015-07-01 |
GB/T 7993-2003 用在腐蝕條件下的搪玻璃設(shè)備的高電壓試驗(yàn)方法
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用在腐蝕條件下的搪玻璃設(shè)備的高電壓試驗(yàn)方法。高電壓試驗(yàn)的目的在于檢測(cè)和定位搪玻璃層中延伸至金屬基體的缺陷和搪玻璃層中的薄弱點(diǎn)。