GB/T 6609.30-2009 氧化鋁化學(xué)分析方法和物理性能測定方法 第30部分：X射線熒光光譜法測定微量元素含量

本標(biāo)準(zhǔn)被GB/T 6609.30-2022 氧化鋁化學(xué)分析方法和物理性能測定方法 第 30 部分：微量元素含量的測定 波長色散X 射線熒光光譜法代替.

GB/T 6609.30-2009 氧化鋁化學(xué)分析方法和物理性能測定方法 第30部分：X射線熒光光譜法測定微量元素含量

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了氧化鋁中元素含量的測定方法。
本部分適用于采用X 射線熒光光譜法測定氧化鋁中以下元素的含量:鈉、硅、鐵、鈣、鉀、鈦、磷、釩、鋅、鎵(用氧化物表示為Na2O、SiO2、Fe2O3、CaO 、K2O、TiO2、P2O5、V2O5、ZnO 和Ga2O3)。
本標(biāo)準(zhǔn)被GB/T 6609.30-2022 氧化鋁化學(xué)分析方法和物理性能測定方法 第 30 部分：微量元素含量的測定 波長色散X 射線熒光光譜法代替。